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如何使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向？
更新時間：2023-05-22 點擊次數：861次
雙折射儀是一種測量材料雙折射性質及其參數的儀器，可用于測量光學單晶、晶體、液晶等材料的雙折射值和方向。在使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向時，需要進行以下步驟：
1.樣品的制備
選取所需的樣品，對其進行打磨或切割處理。樣品的制備需要注意，在樣品表面應該沒有太深或者太淺的裂紋，氣泡以及其他污染物，以免影響雙折射的測量。
2.樣品的設置
將經過打磨和切割處理的樣品放置于樣品臺上，并根據需要設置樣品的方向和位置。
3.調節參數
需要根據具體的樣品，調節其工作參數，以便進行準確測量。需要調整像差補償，根據樣品大小調節數值光柵的位置,并累加光團的圖像，以增強樣品的信號-噪聲比。
4.觀察樣品的雙折射現象
在雙折射測量過程中，需要觀察樣品的雙折射圖案和色澤變化，以確定樣品的雙折射現象。首先觀察樣品的測試位置，觀察到細小的雙折射圖片后，再調整像差補償、網規的水平，讓圖樣清晰。
5.測量雙折射值與方向
確定樣品的雙折射方向后，可以開始對其進行雙折射值的測量。在雙折射儀中，需要通過改變垂直于樣品光線的旋轉角度來進行測量。通常，通過旋轉樣品，可以記錄其在不同角度下的雙折射值，并計算雙折射值與角度的關系曲線。
通過以上步驟，即可在雙折射儀中測量樣品的雙折射值與方向。但是，在實際測量過程中，還需要注意以下幾點：
首先，需要進行足夠的預照明時間，以保證測量的準確性和穩定性。
其次，在測量過程中要注意垂直樣品表面的光線照射，并且要記錄下每一個測量點的光照位置，以便準確控制其位置和角度。
最重要的是，測量的結果要進行多次測量并取平均值，以減小實驗誤差。
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